Улучшение оптических свойств материала, например, отражательной способности, предполагает комплексный поиск оптимальных экспериментальных параметров в процессе их получения. Использование вычислительного программного обеспечения для моделирования этих процессов роста тонких пленок представляет собой существенное преимущество за счет отсутствия зависимости от реальной системы, а также возможности исследования более широкого диапазона физических величин. Кроме того, существует потребность в автомобильной промышленности, компании Varroc Lighting Systems(c) было поручено улучшить отражение алюминированных фар, поэтому мы осуществили разработку, используя программное обеспечение NASCAM(R), которое использует кинетический метод Монте-Карло для создания модели физической системы, подлежащей исследованию в нанометрическом масштабе, что позволит нам проанализировать влияние различных магнитуд, которые могут влиять на отражающую способность материала.